通过本课程学习，学生能获得超大规模集成电路的测试技术和可测试性设计方法，掌握测试的基本知识，熟悉故障建模、仿真、测试生成、测试经济学；掌握可测试性设计的基础知识，特别是扫描设计和内部自检测试；特别抢到与数字系统相关的制造后测试问题和测试解决方案培养，面向现代化IC设计的测试知识和技能，最终通过应用新学习的技术来设计完全可测试电路。为日后从事电路级、芯片级和系统级的设计、制造、测试和应用打下良好的基础。

为学习者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础。

数字电路技术基础、模拟电路技术基础，Verilog 硬件描述语言基础。

1、集成电路封装与测试，主编吕坤颐，机械工业出版社；

2、Essential of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits，主编Michael L Bushnell，电子工业出版社。

3、VLSI测试方法学和可测试性设计，主编雷绍充，电子工业出版社。