通过本课程学习,学生能获得超大规模集成电路的测试技术和可测试性设计方法,掌握测试的基本知识,熟悉故障建模、仿真、测试生成、测试经济学;掌握可测试性设计的基础知识,特别是扫描设计和内部自检测试;特别抢到与数字系统相关的制造后测试问题和测试解决方案培养,面向现代化IC设计的测试知识和技能,最终通过应用新学习的技术来设计完全可测试电路。为日后从事电路级、芯片级和系统级的设计、制造、测试和应用打下良好的基础。
为学习者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础。
数字电路技术基础、模拟电路技术基础,Verilog 硬件描述语言基础。
为积极响应国家低碳环保政策, 2021年秋季学期开始,中国大学MOOC平台将取消纸质版的认证证书,仅提供电子版的认证证书服务,证书申请方式和流程不变。
电子版认证证书支持查询验证,可通过扫描证书上的二维码进行有效性查询,或者访问 http://www.icourse163.org/verify,通过证书编号进行查询。学生可在“个人中心-证书-查看证书”页面自行下载、打印电子版认证证书。
完成课程教学内容学习和考核,成绩达到课程考核标准的学生(每门课程的考核标准不同,详见课程内的评分标准),具备申请认证证书资格,可在证书申请开放期间(以申请页面显示的时间为准),完成在线付费申请。
认证证书申请注意事项:
1. 根据国家相关法律法规要求,认证证书申请时要求进行实名认证,请保证所提交的实名认证信息真实完整有效。
2. 完成实名认证并支付后,系统将自动生成并发送电子版认证证书。电子版认证证书生成后不支持退费。
雷绍充、邵志标、梁峰。VLSI测试方法学和可测试性设计,电子工业出版社,2005.1。